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HY(IC)IC卡動態彎扭試驗機

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HY(IC)IC動態彎扭試驗機

本儀器針對IC卡在國標GB/T 16649.1等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗; 采用*的同步帶傳動,非接觸式光電計數,15工位同時測量大大提高的儀器的精度和使用壽命。

 

主要技術參數

外形尺寸:長×寬×高(670×380×220mm

儀器重量:70kg

電壓:AC220V±5%

功率:35W

測試速度:彎曲30r/min

測試周期:1~9999 

彎曲度;長邊20 mm,短邊10 mm

扭曲度:15°±1°雙向

 

產品用途:用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測試。

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 公司承諾:

1.購機前,我們專門派技術人員為您設計*的流程和方案

2.購機后,將免費指派技術人員為您調試安裝

3.整機保修一年,產品終身維護

4.常年供應設備的易損件及耗品確保儀器能長期使用

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