HY(IC)IC卡動態彎扭試驗機
本儀器針對IC卡在國標GB/T 16649.1等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗; 采用*的同步帶傳動,非接觸式光電計數,15工位同時測量大大提高的儀器的精度和使用壽命。
主要技術參數
外形尺寸:長×寬×高(670×380×220mm)
儀器重量:70kg
電壓:AC220V±5%
功率:35W
測試速度:彎曲30r/min
測試周期:1~9999次
彎曲度;長邊20 mm,短邊10 mm
扭曲度:15°±1°雙向
產品用途:用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測試。
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3.整機保修一年,產品終身維護
4.常年供應設備的易損件及耗品確保儀器能長期使用