HY(SL)三輪測試儀
HY(SL)三輪測試儀根據Master 卡CQM項目對卡進行三輪測試??ū环诺綑C器中,測試輪將循環測試100次,芯片前方滾動50次,芯片后方滾動50次,循環頻率為0.5Hz,向下的壓力為8N。經過測試,檢查芯片情況,芯片應該是完好無損且功能正常。測試儀配有額外的一個15N砝碼用于進行CQM標準推薦的測試。
電源:110-22V 50-60HZ
· 測試標準參考:Mcd
· CQM測試標準參考:P-22
· 測試方法參考:10.3.22
· CQM 6.1.11-12.1.5.2 -16.1.18.2